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武漢松盛光電

光束光斑分析儀

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Basic款激光光斑光束質量分析儀技術參數/圖片/應用/價格

松盛光電研發生產的光束質量分析儀,產品類型豐富,功能全面。適用于340~1100nm光譜范圍內的光束測量要求,可測量從nW到1W的不同強度激光。

Basic系列是松盛光電研發生產的基本款系列產品。該系統普適性強,長波紅外范圍內激光器檢測表現優異。該系列所采用相機靈敏度高,集成的快門可以進行全自動的非均勻性校正。搭配自有開發的lasescopeNX軟件可用于光束實時監測 、測量激光光斑尺寸、質心位置、橢圓度、相對功率測量、光束指向穩定性、功率穩定性、2D/3D能量分布、發散角測量等,同步支持多光斑測量,支持測量數據、測量報告導出,滿足日常激光參數測量需求。

產品特點

標配支架底座,結構緊湊,使用方便

支持手動/自動實時曝光及增益調節

多種類型激光器均可測量

340nm~1150nm寬光譜響應,可拓展紫外檢測

更小像元尺寸:低至1.67μm

接口類型可選:高速USB3.0/GigE 不同產品標配

軟件功能強大,性價比俱佳

應用場景

光束質量分析儀的應用領域廣泛,涵蓋激光加工、光通信、生物醫學、光學成像等多個方面。

激光加工:在激光切割、焊接等加工過程中,能夠實時監測光束質量,優化加工參數,提高加工精度和效率。

光通信:在光纖通信系統中,用于評估光纖、光放大器等器件的光束質量,確保通信信號的傳輸效率和質量。

生物醫學:在醫學和生物技術領域,用于光鑷、細胞分揀等應用中,對激光光束進行整形和調整,以實現精確操作。

光學成像:對光學成像系統的分辨率和對比度有重要影響,可用于鏡頭質檢、光學系統調試等方面。

軟件功能

Lasescope NX是松盛光電定制研發的一款用于Windows 系統的激光光束分析專門算法軟件,算法精準、功能強大。在準確獲取光斑的尺寸位置、光斑大小形貌的同時,可以在設備加工時調整激光加工的準確位置。

軟件環境:Windows 10/11.64位,預裝MS Office或者WPS

硬件配置:≥8G內存,CPU主頻≥2.5G,內核≥4.建議i5及以上同等型號,最佳顯示分辨率1920*1080

  光斑形貌圖示

  光路指向性圖示

  精度檢測圖示

  BPP因子檢測圖示

  多光斑檢測圖示

  技術參數表

 

產品型號 適配光譜范圍 分辨率 像元尺寸 最小檢測光斑 最大檢測光斑 最大檢測功率 外觸發
D0307UK-Basic 190-340nm

340~1100nm①

2448*2048 3.45μm 34.5μm 7.1mm 1W 支持
N0204UB-Basic 1100-1350nm

340~1100nm①

2592*1944 2.2μm 22μm 4.3mm 1W 不支持
N0307UK-Basic 190-340nm

340~1100nm①

2448*2048 3.45μm 34.5μm 7.1mm 1W 支持
N0310UK-Basic 300~340nm

1100-1350nm

340-1100nm①

4096*3072 3.45μm 32μm 9.8mm 1W 支持
NS0505GK-Basic 1100-1750nm

340-1100nm①

1280*1024 5μm 50μm 5.1mm 1W 支持
N0511UK-Basic 190~340nm

1100-1350nm

340-1100nm①

2048*2048 5.5μm 55μm 11.3mm 1W 支持
N0512UP-Basic 340~1100nm① 2560*2560 5μm 50μm 12.8mm 1W 支持
N0615UP-Basic 1100-1350nm

340-1100nm①

3288*2470 6.4μm 64μm 15.8mm 1W 支持
N0622TP-Basic 1100-1350nm

340-1100nm①

7000*7000 6.4μm 64μm 22.4mm 1W 支持

備注:①是基礎款產品標準衰減配置的檢測波段,其他波段的衰減方案需要另行購買。

相關配件列表

配件名稱 配件型號 參數 標準配置 可選配置 適配光譜范圍
磁吸衰減器 TAMB-05 OD0.5 X 340-1100nm
磁吸衰減器 TAMB-10 OD1.0 X 340-1100nm
磁吸衰減器 TAMB-20 OD2.0 X 340-1100nm
磁吸衰減器 TAMB-30 OD3.0 X 340-1100nm
磁吸衰減器 TAMB-40 OD4.0 X 340-1100nm
深紫外磁吸衰減器 TAMB-05D OD0.5 X 190-500nm
深紫外磁吸衰減器 TAMB-10D OD1.0 X 190-500nm
深紫外磁吸衰減器 TAMB-20D OD2.0 X 190-500nm
深紫外磁吸衰減器 TAMB-30D OD3.0 X 190-500nm
深紫外磁吸衰減器 TAMB-40D OD4.0 X 190-500nm
C口衰減器 TAC-05 OD0.5 X 340-1100nm
C口衰減器 TAC-10 OD1.0 X 340-1100nm
C口衰減器 TAC-20 OD2.0 X 340-1100nm
C口衰減器 TAC-30 OD3.0 X 340-1100nm
C口衰減器 TAC-40 OD4.0 X 340-1100nm
光學支架 BP75 手動升降Z軸方向 X 通用
手動位移臺 MZ-10 升降Z=10mm X 通用
手動位移臺 MZ-10S 升降Z=10mm X 通用
手動XY位移臺 MXY-1313 X=13mm Y=13mm X 通用
手動XY位移臺 MXZ-1310 X=13mm Z=10mm X 通用

備注:

標配磁吸衰減器OD0.5/1.0/2.0/3.0.

標配光學支架(手動升降)。

依據所選型號的檢測波段,可選配C口衰減器及拓展紫外測量功能,增加機械組件應對復雜的工況環境。

本廠承接有特殊要求的激光錫焊,激光塑料焊,激光焊接加工產品;并可為用戶設計定制化方案及打樣。


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